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2000년
eng
0026-2714
1872-941X
SCI;SCIE;SCOPUS
학술저널
MICROELECTRONICS RELIABILITY
1643-1648 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
Reliability of electron devices, failure physics and analysis
European symposium; 11th
Dresden, Germany
2000; Oct
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