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1995년
eng
학술저널
IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON IDDQ TESTING
4-8 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
IDDQ testing
International workshop; 1st
Washington; DC
1995; Oct
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Key Note Speech: The Future of IDDQ Testing
Testability Measures and Test Complexities for Testing with Internal Access
Mixed Current/Voltage Testing of Analogue and Mixed-Signal Circuits
Combining IDDQ and Stuck-at Fault Coverage Metrics - Does it Make Sense?