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Saito, O ; Higuchi, N ; Sen, E ; Okabe, Y
2019년
eng
1354-2575
SCIE;SCOPUS
학술저널
Insight - Non-Destructive Testing and Condition Monitoring
714-719(6) [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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