http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=O53827417
2010년
eng
DATE ; Design ; Automation ; Test ; IEEE
1530-1591
1558-1101
학술저널
DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY-
961-964 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
9781424470549 (pbk.)
Design, automation and test in Europe
Conference
Dresden, Germany
2010; Mar
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BISD: Scan-Based Built-In Self-Diagnosis
On Reset Based Functional Broadside Tests