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2005년
eng
학술저널
PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTROMAGNETIC NEAR-FIELD CHARACTERIZATION & IMAGING
221 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
8495999722
International conference on electromagnetic near-field characterization and imaging
2nd
Barcelona, Spain
2005; Jun
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Near-Field Optical Probes: Towards the next generation
Microwave Spiralimetry Imaging
Interactions between Probe Arrays and Antenna under Test in Near-Field Test Facilities