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1999년
eng
학술저널
ATOMIC FORCE MICROSCOPY SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
125-134 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0306462974
Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy
Annual symposium; 3rd
Baltimore, MD
1998; May
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A Practical Approach to Understanding Surface Metrology and Its Applications
Scanning Probe Microscopy in Biology with Potential Applications in Forensics