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Zoughi, R. ; Arbello, B. ; Dyer, R. ; Ferrero, A. ; Daher, J. ; Scharmann, J. ; Petri, D. ; Donnell, K. M. ; Rassa, R. ; Cortner, M.
2015년
eng
1094-6969
1941-0123
SCIE;SCOPUS
학술저널
IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT MAGAZINE
63-67 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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