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2021년
eng
2156-3381
2156-3403
SCOPUS;SCIE
학술저널
IEEE journal of photovoltaics
600-605 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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On the Influence of the Sample Properties on the Measurement of the Implied Open-Circuit Voltage
Monitoring of Photovoltaic Systems Using Improved Kernel-Based Learning Schemes