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      Average Leakage Current Estimation of CMOS Logic Circuits

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      • 저자
      • 발행기관
      • 학술지명
      • 권호사항
      • 발행연도

        2001년

      • 작성언어

        eng

      • 주제어
      • Print ISSN

        1093-0167

      • Online ISSN

        2375-1053

      • 자료형태

        학술저널

      • 원정보자원

        IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM

      • 수록면

        375-379   [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]

      • 국제 표준도서번호

        0769511228; 0769511236; 0769511244

      • 회의자료명

        VLSI test symposium

      • 회의명

        19th

      • 회의장소

        Marina Del Rey, CA

      • 회의날짜

        2001; Apr

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