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2008년
eng
0038-1101
1879-2405
SCI;SCIE;SCOPUS
학술저널
SOLID STATE ELECTRONICS
1460-1466 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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Special issue devoted to the ESSDERC'07 conference
45nm/32nm CMOS - Challenge and perspective
High-k-oxide/silicon interfaces characterized by capacitance frequency spectroscopy