http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=O40630187
1991년
eng
학술저널
IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON DEFECT AND FAULT TOLERANCE ON VLSI SYSTEMS
32-45 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0818624574
Defect and fault tolerance in VLSI systems
International workshop
Hidden Valley; PA
1991; Nov
0
상세조회0
다운로드
Optimization of Parametric Yield
State-of-the-Art of the Wafer Scale ELSA Project
Wafer-Scale Massively Parallel Computing Modules for Fault-Tolerant Signal and Data Processing
Defect Tolerance and Yield for a WSI Rapid Prototyping Architecture