http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=O42143474
2004년
eng
VLSI ; IEEE ; Test technology ; VTS
1093-0167
2375-1053
학술저널
IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM
129-138 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0769521347
VLSI test symposium
22nd
Napa Valley, CA
2004; Apr
0
상세조회0
다운로드
Excitation, Observation, and ELF-MD: Optimization Criteria for High Quality Test Sets
ELF-Murphy Data on Defects and Test Sets
An Experimental Study of N-Detect Scan ATPG Patterns on a Processor
What Does Robust Testing a Subset of Paths, Tell us about the Untested Paths in the Circuit?