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2008년
eng
0739-5159
2164-9340
학술저널
ELECTRICAL OVERSTRESS/ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMPOSIUM PROCEEDINGS
340 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
9781585371464; 1585371467
Electrical overstress/electrostatic discharge
Symposium; 30th
Tucson, AZ
2008; Sep
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Effect of Flip-Chip Package Parameters on CDM Discharge
Gate Oxide Protection and ggNMOSTs in 65 nm
On the Relevance of IC ESD Performance to Product Quality
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