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Yasuda, K. ; Hattori, A. ; Kim, H. ; Terazono, H. ; Hayashi, M. ; Takei, H. ; Kaneko, T. ; Nomura, F.
2013년
eng
1613-4982
1613-4990
SCIE;SCOPUS
학술저널
MICROFLUIDICS AND NANOFLUIDICS
907-931 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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Non-intrusive measurement of microscale temperature distribution by spontaneous Raman imaging
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