http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=O13172894
2001년
-
0026-2714
1872-941X
SCI;SCIE;SCOPUS
학술저널
MICROELECTRONICS RELIABILITY
1243-1253 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0
상세조회0
다운로드
Mechanism of pre-annealing effect on electromigration immunity of Al-Cu line
Electromigration and electrochemical reaction mixed failure mechanism in gold interconnection system
RF modeling approach to determining end-of-life reliability for InP-based HBTs