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예시)

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저자

Liu, S.-T. ; Liu, T.-C. ; Chang, M.-L. ; Chiang, K.-T. ; Chiu, S.-P. ; Lin, J. ; Lo, P.-Y. ; Li, P.-W.
발행기관

ASM International; 1998
학술지명
INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS
권호사항

Vol.35 No.- [2009]
발행연도
2009년
작성언어
eng
ISSN
0890-1740
자료형태
학술저널
원정보자원
INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS
수록면
144-148 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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