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이 학술지의 논문 검색
List Decoding—Random Coding Exponents and Expurgated Exponents
Merhav, Neri IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2014 p.6749-6759
Achievability Proof via Output Statistics of Random Binning
Yassaee, Mohammad Hossein; Aref, Mohammad Reza; Gohari, Amin IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2014 p.6760-6786
MIMO Wiretap Channels With Unknown and Varying Eavesdropper Channel States
He, Xiang; Yener, Aylin IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2014 p.6844-6869
A Simple Proof of Maxwell Saturation for Coupled Scalar Recursions
Yedla, Arvind; Jian, Yung-Yih; Nguyen, Phong S.; Pfister, Henry D. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2014 p.6943-6965
Improved Bounds on the Finite Length Scaling of Polar Codes
Goldin, Dina; Burshtein, David IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2014 p.6966-6978
Repair Locality With Multiple Erasure Tolerance
Wang, Anyu; Zhang, Zhifang IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2014 p.6979-6987
Equivalence for Rank-Metric and Matrix Codes and Automorphism Groups of Gabidulin Codes
Morrison, Katherine IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2014 p.7035-7046
Toward Coding for Maximum Errors in Interactive Communication
Braverman, Mark; Rao, Anup IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2014 p.7248-7255
Robust Estimates of Covariance Matrices in the Large Dimensional Regime
Couillet, Romain; Pascal, Frederic; Silverstein, Jack W. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2014 p.7269-7278
Random Projections for Classification: A Recovery Approach
Zhang, Lijun; Mahdavi, Mehrdad; Jin, Rong; Yang, Tianbao; Zhu, Shenghuo IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2014 p.7300-7316
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
구글의 Page Rank 알고리즘의 영향을 받아 전체 인용 네트워크에서 노드에 점수를 매기는 방식으로, 명성이 높은 저널에서의 인용은 고득점으로 평가되어 같은 인용이라도 보다 높게 평가 됩니다. 또한 저널의 주제분야, 질과 명성이 모두 직접 영향을 미치는 평가 지료라고 할 수 있습니다.
Scopus 데이터의 인용정보를 활용하여 산출되며, Scopus에 등재되지 않은 OA 저널평가에도 유용합니다.