1 Takahashi, K, 19 : 924-, 2006
2 Lee, S.Y, 79 : 3299-, 2001
3 Yang, W.I, 29 : 105004-, 2016
4 Ye, J, 48 : 7554-, 1993
5 Ormeno, R.J, 63 : 104517-, 2001
6 Fuger, R, 234 : 022009-, 2010
7 S. Yoon, 29 : 04LT04-, 2016
8 Lee, J.-H, 27 : 044018-, 2014
9 Schlesier, K, 234 : 012036-, 2010
10 Paturi, P, 21 : 2737-, 2011
1 Takahashi, K, 19 : 924-, 2006
2 Lee, S.Y, 79 : 3299-, 2001
3 Yang, W.I, 29 : 105004-, 2016
4 Ye, J, 48 : 7554-, 1993
5 Ormeno, R.J, 63 : 104517-, 2001
6 Fuger, R, 234 : 022009-, 2010
7 S. Yoon, 29 : 04LT04-, 2016
8 Lee, J.-H, 27 : 044018-, 2014
9 Schlesier, K, 234 : 012036-, 2010
10 Paturi, P, 21 : 2737-, 2011
11 Song, S.H, 463-465 : 497-, 2007
12 Ohshima, S, 372-376 : 671-, 2002
13 Lee, J.H, 15 : 3700-, 2005
14 Klein, N, 67 : 6940-, 1990
15 정호상, "Noninvasive Thickness Measurements of Metal Films through Microwave Dielectric Resonators" 대한금속·재료학회 12 (12): 350-355, 2016
16 International Electrotechnical Commission, "International standard, IEC 61788-15 ed. 1"
17 Hein, M., "High-Temperature-Superconductor Thin Films at Microwave Frequencies" Springer 43-, 1999
18 S. Lee, "Development of In-Plume Pulsed Laser Deposition of High-Ic GdBCO Films for Coated Conductors" Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) 19 (19): 3192-3195, 2009