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예시)

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저자

Rustinov, V. A. ; Saatchyan, A. G.
발행기관

Kharkov, Ukraine:; Kharkov National University of Radioelectronics,
학술지명
PROCEEDINGS OF IEEE EAST-WEST DESIGN &AMP; TEST WORKSHOP
권호사항

Vol.- No.- [2005]
발행연도
2005년
작성언어
eng
주제어

East-West design ; Design and test ; Radioelectronics ; EWDTW
자료형태
학술저널
원정보자원
PROCEEDINGS OF IEEE EAST-WEST DESIGN &AMP; TEST WORKSHOP
수록면
111-114 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
국제 표준도서번호
9666591138 (pbk.)
회의자료명
East-West design & test workshop
회의장소
Odessa, Ukraine
회의날짜
2005; Sep
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Modelisation and Detection of Realistic Defects in CMOS Technology (Abstract)
- Kharkov, Ukraine:; Kharkov National University of Radioelectronics,
- Renovell, M.
- 2005
Leakage Power Analysis and Reduction for Nano-Scale Circuits
- Kharkov, Ukraine:; Kharkov National University of Radioelectronics,
- Roy, K.
- 2005
Design for Yield and Reliability (Abstract)
- Kharkov, Ukraine:; Kharkov National University of Radioelectronics,
- Zorian, Y.
- 2005
Research at Intel's Strategic CAD Labs (Abstract)
- Kharkov, Ukraine:; Kharkov National University of Radioelectronics,
- Burns, S.
- 2005