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2000년
eng
1078-8743
2376-6697
SCOPUS
학술저널
IEEE SEMI ADVANCED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CONFERENCE AND WORKSHOP
199-202 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0780359224; 0780359216; 0780359232
Advanced semiconductor manufacturing conference
11th
Boston, MA
2000; Sep
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Invited: Evaluation of the Yield Impact of Epitaxal Defects on Advanced Semiconductor Technologies
Case Study For Root Cause Analysis of Yield Problems
The Use of Historical Defect Imagery for Yield Learning