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      분위기 가스에 따른 ITO 박막의 전기적 및 구조적 특성 = Electrical and Structural characteristics of ITO thin films deposited under different ambient gases

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      ITO (Indium Tin Oxide) thin films have been extensively studied for OLED devices because they have high transparent properties in the visible wavelength and a low electrical resistivity. These ITO films are deposited by rf-magnetron sputtering under d...

      ITO (Indium Tin Oxide) thin films have been extensively studied for OLED devices because they have high transparent properties in the visible wavelength and a low electrical resistivity. These ITO films are deposited by rf-magnetron sputtering under different ambient gases (Ar, Ar+$O_2$ and Ar+$H_2$) at $300^{\circ}C$. In order to investigate the influences of the oxygen and hydrogen, the flow rate of oxygen and hydrogen in argon has been changed from 0.5sccm to 5sccm and from 0.01sccm to 0.25sccm respectively. The resistivity of ITO film increased with increasing flow rate of $O_2$ under Ar+$O_2$ while it is nearly constant under Ar+$H_2$. And the peak of ITO films obtained (222) and (400) orientations and the average transmittance was over 80% in the visible range. The OLED device fabricated with different ITO substrates made by configuration of ITO/$\alpha$-NPD/Alq3/LiF/Al to elucidate the performance of ITO substrate for OLED device.

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      참고문헌 (Reference)

      1 조신호, "산소 유량비 변화에 따른 Al 도핑된 ZnO 박막의 구조 및 광학적 특성" 한국진공학회 16 (16): 267-272, 2007

      2 R. Das, "The role of oxygen and hydrogen partial pressures on structural and optical properties of ITO films deposited by reative rf-magnetron sputtering" 253 : 6068-6073, 2007

      3 J. Hu, "Textured aluminum-doped zinc oxide thin films from atmospheric pressure chemical-vapor deposition" 71 : 880-890, 1992

      4 T. Ishida, "Structures and properties of electron-beam-evaporated indium tin oxide films as studied by x-ray photoelectron spectroscopy and work-function measurements" 73 : 4344-4350, 1993

      5 S. Kawamura, "Recrystallization of Si on amorphous substrates by doughnut-shaped cw Ar laser beam" 40 : 394-, 1982

      6 John L. Vossen, "RF Sputtered Transparent Conductors, The system In2O3-SnO2" 32 : 289-296, 1975

      7 송우창, "PET 기판 위에 증착된 ITO 투명전도막의 전기적·광학적 특성" 한국전기전자재료학회 17 (17): 1277-1282, 2004

      8 Yasushi Higuchi, "Low Resistivity ITO Film Prepared by DC Magnetron Sputtering" 43 (43): 74-105, 1992

      9 F. Zhu, "Investigation of annealing effects on indium tin oxide thin films by electron energy loss spectroscopy" 359 : 244-250, 1999

      10 Y. Choi, "Growth and Preferred Orientation of ITO Thin Film Deposited by D.C. Magnetron Sputtering" 45 (45): 559-586, 2007

      1 조신호, "산소 유량비 변화에 따른 Al 도핑된 ZnO 박막의 구조 및 광학적 특성" 한국진공학회 16 (16): 267-272, 2007

      2 R. Das, "The role of oxygen and hydrogen partial pressures on structural and optical properties of ITO films deposited by reative rf-magnetron sputtering" 253 : 6068-6073, 2007

      3 J. Hu, "Textured aluminum-doped zinc oxide thin films from atmospheric pressure chemical-vapor deposition" 71 : 880-890, 1992

      4 T. Ishida, "Structures and properties of electron-beam-evaporated indium tin oxide films as studied by x-ray photoelectron spectroscopy and work-function measurements" 73 : 4344-4350, 1993

      5 S. Kawamura, "Recrystallization of Si on amorphous substrates by doughnut-shaped cw Ar laser beam" 40 : 394-, 1982

      6 John L. Vossen, "RF Sputtered Transparent Conductors, The system In2O3-SnO2" 32 : 289-296, 1975

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      11 S. Li, "Effects of oxygen flow on the properties of indium tin oxide films" 98 : 144-147, 2006

      12 K. Zhang, "Effect of hydrogen partial pressure on optoelectronic properties of indium tin oxide thin films deposited by radio frequency magnetron sputtering method" 86 : 974-, 1999

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      2016-01-01 평가 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
      2012-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2010-03-25 학회명변경 한글명 : 한국반도체및디스플레이장비학회 -> 한국반도체디스플레이기술학회
      영문명 : The Korean Society of Semiconductor & Display Equipment Technology -> The Korean Society of Semiconductor & Display Technology
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      2010-03-25 학술지명변경 한글명 : 반도체및디스플레이장비학회지 -> 반도체디스플레이기술학회지
      외국어명 : Journal of the Semiconductor and Display Equipment Technology -> Journal of the Semiconductor & Display Technology
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      2009-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2008-01-01 평가 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
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      2016 0.29 0.29 0.26
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.21 0.18 0.217 0.02
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