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Change of Editor-in-Chief of EDL
Alamo, Jesus A. Del IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2023 p.196-196
Trapping of Hot Carriers in the Forksheet FET Wall: A TCAD Study
Vandemaele, M. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2023 p.197-200
Towards Complete Recovery of Circuit Degradation by Annealing With On-Chip Heaters
Diaz-Fortuny, J. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2023 p.201-204
High-Performance Cascaded Surface-Illuminated Ge-on-Si APD Array
Liu, Xiaobin IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2023 p.205-208
Xin, Yajie IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2023 p.209-212
Chou, Sheng-Yao IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2023 p.213-216
Dynamic Gate Breakdown of p-Gate GaN HEMTs in Inductive Power Switching
Wang, Bixuan IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2023 p.217-220
2.5 kV Vertical Ga2O3 Schottky Rectifier With Graded Junction Termination Extension
Wang, Boyan IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2023 p.221-224
Yang, Junjie IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2023 p.225-228
Kim, Hyo-Jin IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2023 p.229-232
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
구글의 Page Rank 알고리즘의 영향을 받아 전체 인용 네트워크에서 노드에 점수를 매기는 방식으로, 명성이 높은 저널에서의 인용은 고득점으로 평가되어 같은 인용이라도 보다 높게 평가 됩니다. 또한 저널의 주제분야, 질과 명성이 모두 직접 영향을 미치는 평가 지료라고 할 수 있습니다.
Scopus 데이터의 인용정보를 활용하여 산출되며, Scopus에 등재되지 않은 OA 저널평가에도 유용합니다.