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Guest Editorial What's in a Page Charge?
Saha, S. K. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2013 p.827
Simple S/D Series Resistance Extraction Method Optimized for Nanowire FETs
Kim, Y. R.; Lee, S. H.; Sohn, C. W.; Choi, D. Y.; Sagong, H. C.; Kim, S.; Jeong, E. Y.; Kim, D. W.; Hong, H.; Baek, C. K. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2013 p.828-830
Hole Mobility Enhancement in Compressively Strained
Gupta, Suyog; Huang, Yi-Chiau; Kim, Yihwan; Sanchez, Errol; Saraswat, Krishna C. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2013 p.831-833
Hole Mobility Enhancement in Compressively Strained Formula Not Shown pMOSFETs
Gupta, S.; Huang, Y. C.; Kim, Y.; Sanchez, E.; Saraswat, K. C. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2013 p.831-833
Low-Frequency Noise Characteristics for Various
Tsai, Shih Chang; Huang, Po Chin; Chen, Jone F.; Wu, San Lein; Wang, Bo Chin; Chang, Shoou Jinn; Hsu, Che Hua; Yang, Chih Wei; Lai, Chien Ming; Hsu, Chia Wei; Cheng, Osbert IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2013 p.834-836
Tsai, S. C.; Wu, S. L.; Wang, B. C.; Chang, S. J.; Hsu, C. H.; Yang, C. W.; Lai, C. M.; Hsu, C. W.; Cheng, O.; Huang, P. C. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2013 p.834-836
Superior PBTI Reliability for SOI FinFET Technologies and Its Physical Understanding
Wang, M.; Muralidhar, R.; Stathis, J. H.; Linder, B. P.; Jagannathan, H.; Faltermeier, J. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2013 p.837-839
Bias-Engineered Mobility in Advanced FD-SOI MOSFETs
Fernandez, C.; Rodriguez, N.; Ohata, A.; Gamiz, F.; Andrieu, F.; Fenouillet-Beranger, C.; Faynot, O.; Cristoloveanu, S. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2013 p.840-842
Silicon Integrated InGaAs/InAlAs
Malko, A.; Bryllert, T.; Vukusic, J.; Stake, J. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2013 p.843-845
High-Speed 501-Stage DCFL GaN Ring Oscillator Circuits
Corrion, A. L.; Shinohara, K.; Regan, D.; Tang, Y.; Brown, D.; Robinson, J. F.; Fung, H. H.; Schmitz, A.; Le, D.; Kim, S. J. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2013 p.846-848
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