http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
이 학술지의 논문 검색
Hwang, T.Feng, M. IEEE 1992 p.445-447
Electromigration properties of electroless plated Cu metallization
Kang, H. K.;Cho, J. S. H.Wong, S. S. IEEE 1992 p.448-450
High-performance highly strained Ga/sub 0.23
Chough, K. B.;Chang, T. Y.;Feuer, M. D.;Sauer, N. J.Lalevic, B. IEEE 1992 p.451-453
Thermoelectric infrared sensors by CMOS technology
Lenggenhager, R.;Baltes, H.;Peer, J.Forster, M. IEEE 1992 p.454-456
Improved hot-carrier immunity in CMOS analog device with N/sub 2
Lo, G. Q.;Ahn, J.Kwong, D. L. IEEE 1992 p.457-459
Ifstrom, T.;Apel, U.;Graf, H. G.;Harendt, C.Hofflinger, B. IEEE 1992 p.460-461
Grot, S. A.;Gildenblat, G. S.Badzian, A. R. IEEE 1992 p.462-464
Buried source-side injection (BSSI) for flash EPROM programming
Kaya, C.;Liu, D. K. Y.;Paterson, J.Shah, P. IEEE 1992 p.465-467
High-current-gain small-offset-voltage In/sub 0.49
Shey-Shi, LuChung-Cheng, Wu IEEE 1992 p.468-470
High-performance metal/silicide antifuse (for CMOS technology)
Wang, S. J.;Misium, G. R.;Camp, J. C.;Chen, K. L.Tigelaar, H. L. IEEE 1992 p.471-472
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
구글의 Page Rank 알고리즘의 영향을 받아 전체 인용 네트워크에서 노드에 점수를 매기는 방식으로, 명성이 높은 저널에서의 인용은 고득점으로 평가되어 같은 인용이라도 보다 높게 평가 됩니다. 또한 저널의 주제분야, 질과 명성이 모두 직접 영향을 미치는 평가 지료라고 할 수 있습니다.
Scopus 데이터의 인용정보를 활용하여 산출되며, Scopus에 등재되지 않은 OA 저널평가에도 유용합니다.