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1998년
eng
2166-2746
2166-2754
SCIE
학술저널
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY B MICROELECTRONICS AND NANOMETER STRUCTURE
2237-2241 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
Physics and chemistry of semiconductor interfaces
Annual conference; 25th
Salt Lake CIty; UT
1998; Jan
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Perturbation solution for the interfacial oxidation of silicon
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