- 목차
- 제1장. 실험 = 1
- Ⅰ. 반도체 소자와 집적회로 = 3
- 실습과제 Ⅰ-1. 정류 다이오드의 고장 검사 = 3
- 실습과제 Ⅰ-2. 트랜지스터의 고장 검사 = 7
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대전 : 한백전자, 2010
2010
한국어
569.3 판사항(5)
621.3815 판사항(21)
9788993327762 93560: ₩10000
단행본(다권본)
대전
(HBE-Electronic Circuit을 이용한) 전자회로 실험 실습 가이드 / 저자: 한백전자 기술연구소
187 p. : 삽화 ; 27 cm
기초전기전자
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