RISS 학술연구정보서비스

검색
다국어 입력

http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.

변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.

예시)
  • 中文 을 입력하시려면 zhongwen을 입력하시고 space를누르시면됩니다.
  • 北京 을 입력하시려면 beijing을 입력하시고 space를 누르시면 됩니다.
닫기
    인기검색어 순위 펼치기

    RISS 인기검색어

      KCI등재후보 SCIE SCOPUS

      An Analytical Modeling of Threshold Voltage and Subthreshold Swing on Dual Material Surrounding Gate Nanoscale MOSFETs for High Speed Wireless Communication

      한글로보기

      https://www.riss.kr/link?id=A76346675

      • 0

        상세조회
      • 0

        다운로드
      서지정보 열기
      • 내보내기
      • 내책장담기
      • 공유하기
      • 오류접수

      부가정보

      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      A new two dimensional (2-D) analytical model for the Threshold Voltage on dual material surrounding gate (DMSG) MOSFETs is presented in this paper. The parabolic approximation technique is used to solve the 2-D Poisson equation with suitable boundary ...

      A new two dimensional (2-D) analytical model for the Threshold Voltage on dual material surrounding gate (DMSG) MOSFETs is presented in this paper. The parabolic approximation technique is used to solve the 2-D Poisson equation with suitable boundary conditions. The simple and accurate analytical expression for the threshold voltage and subthreshold swing is derived. It is seen that short channel effects (SCEs) in this structure is suppressed because of the perceivable step in the surface potential which screens the drain potential. We demonstrate that the proposed model exhibits significantly reduced SCEs, thus make it a more reliable device configuration for high speed wireless communication than the conventional single material surrounding gate (SMSG) MOSFETs.

      더보기

      목차 (Table of Contents)

      • Abstract
      • Ⅰ. INTRODUCTION
      • Ⅱ. THEORETICAL MODEL
      • Ⅲ. RESULTS AND DISCUSSIONS
      • Ⅳ. CONCLUSIONS
      • Abstract
      • Ⅰ. INTRODUCTION
      • Ⅱ. THEORETICAL MODEL
      • Ⅲ. RESULTS AND DISCUSSIONS
      • Ⅳ. CONCLUSIONS
      • REFERENCES
      더보기

      참고문헌 (Reference)

      1 M. J. Kumar, "New dual-material Surrounding gate Nanoscale MOSFET: Analytical Threshold-voltage model" 53 (53): 920-923, 2006

      2 A.Chaudhry, "Controlling shortchannel effect in deep- submicron SOI MOSFETs for improved reliability: A review" 4 (4): 99-109, 2006

      3 K. Suzuki, "Analytical threshold voltage model for short channel Double Gate MOSFETs" 43 : 732-738, 1996

      4 S. H.Oh, "Analytical description of short- channel effects in fully depleted Double gate and cylindrical surroundinggate MOSFETs" 21 (21): 445-447, 2000

      5 Young K. K, "Analysis of conduction in fully depleted SOI MOSFETs" 36 (36): 504-506, 1989

      6 N. B. Balamurugan, "A New Scaling Theory for the Effective Conducting Path Effect of Dual Material Surrounding Gate Nanoscale MOSFETs" 대한전자공학회 8 (8): 92-97, 2008

      1 M. J. Kumar, "New dual-material Surrounding gate Nanoscale MOSFET: Analytical Threshold-voltage model" 53 (53): 920-923, 2006

      2 A.Chaudhry, "Controlling shortchannel effect in deep- submicron SOI MOSFETs for improved reliability: A review" 4 (4): 99-109, 2006

      3 K. Suzuki, "Analytical threshold voltage model for short channel Double Gate MOSFETs" 43 : 732-738, 1996

      4 S. H.Oh, "Analytical description of short- channel effects in fully depleted Double gate and cylindrical surroundinggate MOSFETs" 21 (21): 445-447, 2000

      5 Young K. K, "Analysis of conduction in fully depleted SOI MOSFETs" 36 (36): 504-506, 1989

      6 N. B. Balamurugan, "A New Scaling Theory for the Effective Conducting Path Effect of Dual Material Surrounding Gate Nanoscale MOSFETs" 대한전자공학회 8 (8): 92-97, 2008

      더보기

      분석정보

      View

      상세정보조회

      0

      Usage

      원문다운로드

      0

      대출신청

      0

      복사신청

      0

      EDDS신청

      0

      동일 주제 내 활용도 TOP

      더보기

      주제

      연도별 연구동향

      연도별 활용동향

      연관논문

      연구자 네트워크맵

      공동연구자 (7)

      유사연구자 (20) 활용도상위20명

      인용정보 인용지수 설명보기

      학술지 이력

      학술지 이력
      연월일 이력구분 이력상세 등재구분
      2023 평가예정 해외DB학술지평가 신청대상 (해외등재 학술지 평가)
      2020-01-01 평가 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) KCI등재
      2014-01-21 학회명변경 영문명 : The Institute Of Electronics Engineers Of Korea -> The Institute of Electronics and Information Engineers KCI등재
      2010-11-25 학술지명변경 한글명 : JOURNAL OF SEMICONDUTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE -> JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE KCI등재
      2010-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2009-01-01 평가 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
      2007-01-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
      더보기

      학술지 인용정보

      학술지 인용정보
      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.42 0.13 0.35
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.3 0.29 0.308 0.03
      더보기

      이 자료와 함께 이용한 RISS 자료

      나만을 위한 추천자료

      해외이동버튼