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Advanced integrated-circuit reliability simulation including dynamic stress effects
Hsu, W. J.;Sheu, B. J.;Gowda, S. M.Hwang, C. G. IEEE 1992 p.247-257
Simulation and analysis of transient faults in digital circuits
Yang, F. L.Saleh, R. A. IEEE 1992 p.258-264
A tool towards integration of IC process, device, and circuit simulation
Chin, G.Dutton, R. W. IEEE 1992 p.265-273
A new on-chip ESD protection circuit with dual parasitic SCR structures for CMOS VLSI
Chung-Yu, Wu;Ming-Dou, Ker;Chung-Yuan, LeeJoe, Ko IEEE 1992 p.274-280
The effect of logic block architecture on FPGA performance
Singh, S.;Rose, J.;Chow, P.Lewis, D. IEEE 1992 p.281-287
GANGLION-a fast field-programmable gate array implementation of a connectionist classifier
Cox, C. E.Blanz, W. E. IEEE 1992 p.288-299
A power-efficient channel coder/decoder chip for GSM terminals
Busschaert, H. J.;Reusens, P. P.;Wauwe, G. Van;Langhe, M. De;Camp, R. M. A. Van;Gouwy, C. M. W.Dartois, L. IEEE 1992 p.307-313
A balanced 0.9- mu m CMOS transconductance-C filter tunable over the VHF range
Snelgrove, W. M.Shoval, A. IEEE 1992 p.314-323
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