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2001년
eng
학술저널
GAAS RELIABILITY WORKSHOP
3-12 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0790800667
Gallium arsenide reliability workshop; GaAs reliability workshop
Baltimore, MD
2001; Oct
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Comparison of Silicon Carbide and GaAs Schottky Diode
Reliability Issues in GaAs-Based Devices for Space Applications