RISS 학술연구정보서비스

검색
다국어 입력

http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.

변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.

예시)
  • 中文 을 입력하시려면 zhongwen을 입력하시고 space를누르시면됩니다.
  • 北京 을 입력하시려면 beijing을 입력하시고 space를 누르시면 됩니다.
닫기
    인기검색어 순위 펼치기

    RISS 인기검색어

      KCI등재 SCOPUS

      다양한 기판온도에서 성장된 ZnO 나노구조체의 버퍼층 효과 = Effect of a Buffer Layer on ZnO Nanostructure Growth at Different Substrate Temperatures

      한글로보기

      https://www.riss.kr/link?id=A104320143

      • 0

        상세조회
      • 0

        다운로드
      서지정보 열기
      • 내보내기
      • 내책장담기
      • 공유하기
      • 오류접수

      부가정보

      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      In this study, the ZnO nano-structures were grown on Si substrates at various growth temperatures from 500 ℃ to 900℃ by using a thermal evaporation method, and the effects of Zn and ZnO buffer layers prepared by using a RF magnetron sputtering system were investigated. The surface morphology and the growth direction of the ZnO nano structures with Zn and ZnO buffer layers on Si wafers were determined by using scanning electron microscopy (SEM) and X-ray diffraction (XRD). Among all samples, because the ZnO nano-structures grown on ZnO buffer layers at 700℃ had a ZnO (002) preferred orientation and vertical growth potential due to their acting as a seed layer, those nanostructures can be applied to optoelectronic devices.
      번역하기

      In this study, the ZnO nano-structures were grown on Si substrates at various growth temperatures from 500 ℃ to 900℃ by using a thermal evaporation method, and the effects of Zn and ZnO buffer layers prepared by using a RF magnetron sputtering sys...

      In this study, the ZnO nano-structures were grown on Si substrates at various growth temperatures from 500 ℃ to 900℃ by using a thermal evaporation method, and the effects of Zn and ZnO buffer layers prepared by using a RF magnetron sputtering system were investigated. The surface morphology and the growth direction of the ZnO nano structures with Zn and ZnO buffer layers on Si wafers were determined by using scanning electron microscopy (SEM) and X-ray diffraction (XRD). Among all samples, because the ZnO nano-structures grown on ZnO buffer layers at 700℃ had a ZnO (002) preferred orientation and vertical growth potential due to their acting as a seed layer, those nanostructures can be applied to optoelectronic devices.

      더보기

      국문 초록 (Abstract)

      본 연구에서, ZnO 나노구조체는 500∼900℃의 다양한 성장 온도 조건에서 열증착 방법에 의해 Si 기판위에 성장되었으며, 또한 RF-magnetron sputter에 의해 제작된 Zn와 ZnO 버퍼층의 유무에 따른 효과들을 연구하였다. Zn 및 ZnO 버퍼층을 갖는 ZnO 나노구조체의 표면 형상과 성장 방향은 SEM과 XRD 분석을 이용해 확인하였다. 제작된 샘플들 가운데 700℃에서 ZnO 버퍼층위에 성장된 ZnO 나노구조체는 nanorod 형태를 가지며 이는 ZnO 버퍼층이 seed layer로 작용함으로써 ZnO (002) 우선 배향성이 향상되었다. 또한 최적화된 조건에서 형성된 ZnO는 일정하며, 수직성장된 형상들을 갖는 것을 확인하였다. 결론적으로 최적화된 성장온도에서 버퍼층 도입에 따라 ZnO 나노구조체의 성장 제어가 수월해짐을 확인하였다. 샘플들 가운데, 700 ℃에서 ZnO 버퍼층위에 성장된 ZnO 나노 구조체는 버퍼층이 seed 층으로 작용하기 때문에 ZnO (002) 우선 성장과 수직 성장 가능성이 향상되어지고, 광전자 소자로 적용될 수 있다.
      번역하기

      본 연구에서, ZnO 나노구조체는 500∼900℃의 다양한 성장 온도 조건에서 열증착 방법에 의해 Si 기판위에 성장되었으며, 또한 RF-magnetron sputter에 의해 제작된 Zn와 ZnO 버퍼층의 유무에 따른 효과...

      본 연구에서, ZnO 나노구조체는 500∼900℃의 다양한 성장 온도 조건에서 열증착 방법에 의해 Si 기판위에 성장되었으며, 또한 RF-magnetron sputter에 의해 제작된 Zn와 ZnO 버퍼층의 유무에 따른 효과들을 연구하였다. Zn 및 ZnO 버퍼층을 갖는 ZnO 나노구조체의 표면 형상과 성장 방향은 SEM과 XRD 분석을 이용해 확인하였다. 제작된 샘플들 가운데 700℃에서 ZnO 버퍼층위에 성장된 ZnO 나노구조체는 nanorod 형태를 가지며 이는 ZnO 버퍼층이 seed layer로 작용함으로써 ZnO (002) 우선 배향성이 향상되었다. 또한 최적화된 조건에서 형성된 ZnO는 일정하며, 수직성장된 형상들을 갖는 것을 확인하였다. 결론적으로 최적화된 성장온도에서 버퍼층 도입에 따라 ZnO 나노구조체의 성장 제어가 수월해짐을 확인하였다. 샘플들 가운데, 700 ℃에서 ZnO 버퍼층위에 성장된 ZnO 나노 구조체는 버퍼층이 seed 층으로 작용하기 때문에 ZnO (002) 우선 성장과 수직 성장 가능성이 향상되어지고, 광전자 소자로 적용될 수 있다.

      더보기

      참고문헌 (Reference)

      1 Y. W. Heo, 47 : 1-, 2004

      2 C. Y. Lee, 6 : 127-, 2003

      3 H. Kind, 14 : 158-, 2002

      4 H. J. Fan, 36 : 95-, 2004

      5 Y. W. Zhu, 83 : 144-, 2003

      6 N. K. Park, 13 : 2298-, 2007

      7 B. Xia, 15 : 353-, 2003

      8 Z. H. Wu, 81 : 5177-, 2002

      9 B. J. Ohlsson, 13 : 1126-, 2002

      10 Y. Wu, 123 : 3165-, 2001

      1 Y. W. Heo, 47 : 1-, 2004

      2 C. Y. Lee, 6 : 127-, 2003

      3 H. Kind, 14 : 158-, 2002

      4 H. J. Fan, 36 : 95-, 2004

      5 Y. W. Zhu, 83 : 144-, 2003

      6 N. K. Park, 13 : 2298-, 2007

      7 B. Xia, 15 : 353-, 2003

      8 Z. H. Wu, 81 : 5177-, 2002

      9 B. J. Ohlsson, 13 : 1126-, 2002

      10 Y. Wu, 123 : 3165-, 2001

      11 P. D. Cozzoli, 107 : 4756-, 2003

      더보기

      동일학술지(권/호) 다른 논문

      분석정보

      View

      상세정보조회

      0

      Usage

      원문다운로드

      0

      대출신청

      0

      복사신청

      0

      EDDS신청

      0

      동일 주제 내 활용도 TOP

      더보기

      주제

      연도별 연구동향

      연도별 활용동향

      연관논문

      연구자 네트워크맵

      공동연구자 (7)

      유사연구자 (20) 활용도상위20명

      인용정보 인용지수 설명보기

      학술지 이력

      학술지 이력
      연월일 이력구분 이력상세 등재구분
      2023 평가예정 해외DB학술지평가 신청대상 (해외등재 학술지 평가)
      2020-01-01 평가 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) KCI등재
      2016-09-05 학술지명변경 외국어명 : Sae Mulli(New Physics) -> New Physics: Sae Mulli KCI등재
      2015-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2011-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2009-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2007-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2004-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2003-01-01 평가 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
      2002-01-01 평가 등재후보학술지 유지 (등재후보1차) KCI등재후보
      1999-07-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
      더보기

      학술지 인용정보

      학술지 인용정보
      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.18 0.18 0.17
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.15 0.14 0.3 0.1
      더보기

      이 자료와 함께 이용한 RISS 자료

      나만을 위한 추천자료

      해외이동버튼