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2000년
eng
학술저널
GAAS RELIABILITY WORKSHOP
79-98 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0790801027; 0780350677
Gallium arsenide reliability workshop
Seattle, WA
2000; Nov
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Breakdown Voltage of AlGaAs/InGaAs HEMT Submitted to Life-Tests in Impact Ionization Regime
Ka-Band InP HEMT MMIC Reliability
Life Testing and Failure Analysis of PHEMT MMICs
Reliability of 6 inch 0.4 mm-gate PHEMT Device