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2006년
eng
0169-4332
1873-5584
SCI;SCIE;SCOPUS
학술저널
APPLIED SURFACE SCIENCE
52-56 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
Current trends in optical and X-ray metrology of advanced materials for nanoscale devices: proceedings of the European Materials Research Society Spring meeting 2005 : Symposium P /
Symposium P
Strasbourg, France
2005; May
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Thin multilayers characterization by grazing X-ray reflectometry and use of Fourier transform
Electron density profile at the interface of SiO2/Si(0 0 1)