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1998년
eng
학술저널
TOPICAL MEETING ON SILICON MONOLITHIC INTEGRATED CIRCUITS IN RF SYSTEMS
135-140 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0780352882; 0780352890
Topical meeting on silicon monolithic integrated circuits in RF systems
1st
Ann Arbor, MI
1998; Sep
0
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EXPERIMENTAL DETERMINATION OF MINORITY ELECTRON MOBILITY IN P-TYPE PSEUDOMORPHIC SIGE/SI
NOISE PROPERTIES OF SIGE HETEROJUNCTION BIPOLAR TRANSISTOR