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2002년
eng
VLSI ; IEEE ; test technology ; VTS
1093-0167
2375-1053
학술저널
IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM
336-344 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0769515703; 0769515711; 076951572X
VLSI test symposium; (VTS 2002)
20th
Monterey, CA
2002; Apr
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