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Hsu, C.-K. ; Lin, F. ; Cheng, K.-T. ; Zhang, W. ; Li, X. ; Carulli, J. ; Butler, K.
2013년
eng
1089-3539
2378-2250
학술저널
INTERNATIONAL TEST CONFERENCE
125-134 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
9781479908608 (paperback)
International test conference; 2013 IEEE International Test Conference (ITC 2013)
44th
Anaheim, CA
2013; Sep
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