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2006년
eng
학술저널
COLLECTION OF PAPERS PRESENTED AT THE INTERNATIONAL WORKSHOP ON THERMAL INVESTIGATION OF ICS AND MICROSTRUCTURES
180-185 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
International workshop on thermal investigation of ICs and systems; THERMINIC
12th
Nice, France
2006; Sep
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ENABLING ELECTRONIC PROGNOSTICS USING THERMAL DATA
CCD THERMOREFLECTANCE THERMOGRAPHY SYSTEM: METHODOLOGY AND EXPERIMENTAL VALIDATION
-55C TO 170C HIGH LINEAR VOLTAGE REFERENCES CIRCUITRY IN 0.18mum CMOS TECHNOLOGY