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1996년
eng
polarimetry ; ellipsometry ; SPIE ; IS&T
1605-7422
2410-9045
학술저널
PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING
194-203 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0819425095
Polarimetry and ellipsometry
Meeting
Kazimierz Dolny; Poland
1996; May
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Polarization characteristics of quantum-well semiconductor structures [3094-01]
Analysis of polarized light in multilayers [3094-03]