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1993년
eng
1154-2799
2777-3558
학술저널
MICROSCOPY MICROANALYSIS MICROSTRUCTURES
19-30 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
Near field microscopies
Symposium; Annual meeting
Lyons; France
1993; Jun
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A model in SNOM: influence of metallization and of tip geometry
Near field microscopy of glass surface and interfaces
Characterization of the metal-semiconductor interface by ballistic electron emission microscopy