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2008년
eng
1091-8213
SCOPUS
학술저널
MEETING ABSTRACTS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY -ALL DIVISIONS ; PTS 1-7 2008
2387 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
9781605606729
Electrochemical Society
Meeting; 214th
Honolulu, Hawaii
2008; Oct
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Drain Bias Influence on Light-Induced Threshold Voltage Shift of OTFTs
Improvement of Current Stability of Amorphous Oxide Thin-Film Transistors using SOG Passivation