http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
Chen, Y.; Federspiel, X.; Sullivan, T.; Tao, G.; Tonti, B.; Young, C.; Zafar, S. IEEE 2007 p.215-216
HCI Lifetime Correction Based on Self-Heating Characterization for SOI Technology
Roux, J.-M.; Federspiel, X.; Roy, D.; Abramowitz, P. IEEE 2007 p.217-224
The Energy-Driven Hot-Carrier Degradation Modes of nMOSFETs
Guerin, C.; Huard, V.; Bravaix, A. IEEE 2007 p.225-235
Federspiel, X.; Doyen, L.; Courtas, S. IEEE 2007 p.236-241
Impact of TiN Plasma Post-Treatment on Alumina Electron Trapping
Bajolet, A.; Bruyere, S.; Proust, M.; Montes, L.; Ghibaudo, G. IEEE 2007 p.242-251
Li, Y.; Groeseneken, G.; Maex, K.; Tokei, Z. IEEE 2007 p.252-258
Constant-Current Stressing of SiCr-Based Thin-Film Resistors: Initial "Wearout" Investigation
Brynsvold, R. R.; Manning, K. IEEE 2007 p.259-269
Constant-Current Wafer-Level Electromigration Test: Normalization of Data for Production Monitoring
Aubel, O.; Sullivan, T. D.; Massey, D.; Lee, T. C.; Merrill, T.; Polchlopek, S.; Strong, A. IEEE 2007 p.270-277
TDDB Data Generation for Fast Lifetime Projections Based on V-Ramp Stress Data
Aal, A. IEEE 2007 p.278-284
Suto, H.; Mori, S.; Kanno, M.; Nagashima, N. IEEE 2007 p.285-297
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
구글의 Page Rank 알고리즘의 영향을 받아 전체 인용 네트워크에서 노드에 점수를 매기는 방식으로, 명성이 높은 저널에서의 인용은 고득점으로 평가되어 같은 인용이라도 보다 높게 평가 됩니다. 또한 저널의 주제분야, 질과 명성이 모두 직접 영향을 미치는 평가 지료라고 할 수 있습니다.
Scopus 데이터의 인용정보를 활용하여 산출되며, Scopus에 등재되지 않은 OA 저널평가에도 유용합니다.