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새로운 ERM-방법에 의한 미세구조 N-채널 MOSFET의 유효 캐리어 이동도와 소스 및 드레인 기생저항의 정확한 분리 추출
김현창, 조수동,송상준,김대정,김동명,Kim, Hyun-Chang,Cho, Su-Dong,Song, Sang-Jun,Kim, Dea-Jeong,Kim, Dong-Myong 대한전자공학회 2000 p.1-9