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2009년
eng
0040-6090
1879-2731
SCI;SCIE;SCOPUS
학술저널
THIN SOLID FILMS
3837-3840 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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A diffusion study in the barrier of metallized amorphous binary alloys withnumerical approach
Characterization and Cu electroless plating of laser-drilled through-wafer via-holes in GaN/Al2O3