RISS 검색 - 국내학술지논문 상세보기

다국어 초록 (Multilingual Abstract)

The development of memory design and process technology enabled the production of high density memory. However, this increased the complexity of the memory making memory testing more complicated, and as a result, it brought about an increase in memory testing costs. Effective memory test algorithm must detect various types of defects within a short testing time, and especially in the case of port memory test algorithm, it must be able to detect single port memory defects, and all the defects in the dual port memory. The March A2PF algorithm proposed in this paper is an effective test algorithm that detects all types of defects relating to the duel port and single port memory through the short 18N test pattern.

국문 초록 (Abstract)

메모리 설계 기술과 공정기술의 발달은 고집적 메모리의 생산을 가능하게 하였다. 그러나 이는 메모리의 복잡도를 증가시켜 메모리 테스트를 더욱 복잡하게 하여, 결과적으로 메모리 테스...

메모리 설계 기술과 공정기술의 발달은 고집적 메모리의 생산을 가능하게 하였다. 그러나 이는 메모리의 복잡도를 증가시켜 메모리 테스트를 더욱 복잡하게 하여, 결과적으로 메모리 테스트 비용의 증가를 가져왔다. 효과적인 메모리 테스트 알고리즘은 짧은 테스트 시간동안 다양한 종류의 고장을 검출하여야 하며, 특히 이중 포트 메모리 테스트 알고리즘의 경우에는 단일 포트 메모리의 고장과 이중 포트 메모리 고장을 모두 검출할 수 있어야 한다. 본 논문에서 제안하는 March A2PF 알고리즘은 18N의 짧은 테스트 패턴을 통해 이중 포트 및 단일 포트 메모리와 관련된 모든 종류의 고장을 검출하는 효과적인 테스트 알고리즘이다.

참고문헌 (Reference)

1 "Thorough testing of any multiport memory with linear tests" 21 : 217-231, 2002

2 "New fault models and efficient BIST algorithms for dual-port memories" 16 : 987-1000, 1997

3 "March tests for realistic faults in two-port memories" 73-78, 2000

4 "March SS: a test for all static simple RAM lts" 95-100, 2002

5 "Functional memory faults: a formal notation and a taxonomy" 281-289, 2000

6 "Fault models and tests for two-port memories" 401-410, 1998

7 "Efficient tests for realistic faults in dual-port SRAMs" 51 : 460-473, 2002

8 "An experimental analysis of spot defects in SRAMs: realistic fault models and tests" 131-138, 2000

9 "An efficient Test Methode for Embedded Multi-Port RAM With BIST circuitry" 62-67, 1995

10 "A New Test Evaluation Chip for Lower Cost Memory Tests Proceedings of IEEE Design and Test of Computers" 15-19, 1993