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Roesch, W. JEDEC Solid State Technology Association 2000 GAAS RELIABILITY WORKSHOP Vol.- No.-
The Reliability of Short Length GaAs Bulk Resistors
Sabin, E.,Scarpulla, J.,Chou, Y. JEDEC Solid State Technology Association 2000 GAAS RELIABILITY WORKSHOP Vol.- No.-
MMIC Capacitor Dielectric Reliability
Cramer, H., Oliver, J., Dix, G. IEEE Service Center 1998 GAAS RELIABILITY WORKSHOP Vol.11 No.-
Reliable AlGaAs/GaAs HBTs grown by MBE with increased Beryllium Doping and Aluminum Concentration
Fresina, M.,Logue, M.,Fendrich, J.,Rogers, T. JEDEC Solid State Technology Association 2001 GAAS RELIABILITY WORKSHOP Vol.- No.-
Determination of Reliability on MOCVD Grown InGaP/GaAs HBTs under both Thermal and Current Acceleration Stresses
Feng, K.,Rushing, L.,Flores, L. JEDEC Solid State Technology Association 2001 GAAS RELIABILITY WORKSHOP Vol.- No.-
Exploring Physical Mechanisms for Sudden Beta Degradation in GaAs-Based HBTs
Welser, R.,Deluca, P. JEDEC Solid State Technology Association 2001 GAAS RELIABILITY WORKSHOP Vol.- No.-
SESSION IV - HBT RELIABILITY
Roesch, B. JEDEC Solid State Technology Association 2001 GAAS RELIABILITY WORKSHOP Vol.- No.-
The Effect of Gate and Recess Scaling on the Gate-Drain Breakdown and Hot-Electron Reliability of AlGaAs/GaAs Power HFETs
Menozzi, R., Sozzi, G., Dieci, D., Tomasi, T., Lan JEDEC Solid State Technology Association 1999 GAAS RELIABILITY WORKSHOP Vol.- No.-
Reliability Testing of 0.1 um GaAs Psuedomorphic HEMT MMIC Amplifiers
Leung, D., Chou, Y., Wu, C., Kono, R., Scarpulla, JEDEC Solid State Technology Association 1999 GAAS RELIABILITY WORKSHOP Vol.- No.-
Reliability Performance of Components and ICs from a Production 1 mum GaAs HBT Process
Yamada, F., Oki, A., Streit, D., Hikin, B., Kanesh JEDEC Solid State Technology Association 1999 GAAS RELIABILITY WORKSHOP Vol.- No.-
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