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Higashi, S. Electrochemical Society 2000 PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV Vol.- No.31
TFT Technologies: Performances and Cost Evaluation
Le Contellec, M. The Society 1992 PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV Vol.92-24 No.-
Short Channel and Flat-Gate Amorphous-Silicon Thin-Film Transistors
Saitoh, A., Kim, C. D., Sakoda, T., Matsumura, M. The Society 1996 PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV Vol.96-23 No.-
Bottom Contact Organic Thin-Film Transistors with Thiol-based SAM Treatment
Kawasaki, M., Imazeki, S., Ando, M., Ohe, M. Pennington, NJ:; Electrochemical Society, 2004 PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV Vol.- No.15
Numerical Extraction of Capacitance in a-Si Thin-Film Transistors
Pham, H.,Nathan, A. The Society 1998 PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV Vol.22 No.-
Micro-Structures in Vertical Amorphous-Silicon Thin-Film Transistors
Saitoh, A.,Awaya, S.,Suyama, N.,Matsumura, M. The Society 1998 PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV Vol.22 No.-
Reduction of the Leakage Current of Thin-Film Transistor on Metal-Induced Laterally Crystallized Polycrystalline Silicon
Meng, Z., Wu, C., Xiong, S., Shi, X., Kwok, H. S. Pennington, NJ:; Electrochemical Society, 2004 PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV Vol.- No.15
Modelling of Thin-Film Transistors in a Polycrystalline Silicon Layer with Large Grains
Spiekerman, A. J. G.,van Dijk, B. D.,Ishihara, R. The Society 1998 PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV Vol.22 No.-
Characterization of Polysilicon Thin-Film Transistor Gate Dielectrics
Zaman, R. J., Damiano, J., Batra, S., Manning, M. The Society 1996 PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV Vol.96-23 No.-
Analysis of Switch-On and Switch-Off Speeds of Amorphous Silicon Thin-Film Transistors from Two-Dimensional Simulation
Huang, J. S., Wu, C. H. The Society 1994 PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV Vol.94-35 No.-
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