RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
New TIT capacitor with ZrO~2/Al~2O~3/ZrO~2 dielectrics for 60 nm and below DRAMs
Cho, H.J., Kim, Y.D., Park, D.S., Lee, E., Park, C Elsevier 2007 Solid-State Electronics Vol.51 No.11-12
A systematic investigation of work function in advanced metal gate-HfO~2-SiO~2 structures with bevel oxide
Kuriyama, A., Mitard, J., Faynot, O., Brevard, L. Elsevier 2007 Solid-State Electronics Vol.51 No.11-12
Foreword: Solid-state electronics special issue foreword
Ionescu, A.M., Leblebici, Y. Elsevier 2007 Solid-State Electronics Vol.51 No.11-12
Solid-State Lithium Batteries with Sulfide-Based Solid Electrolytes [Invited]
Takada, K., Nakano, S., Inada, T., Kajiyama, A., K New Jersey; London:; World Scientific, 2004 SOLID STATE IONICS; PROCEEDINGS OF THE ASIAN CONFE Vol.9 No.-
Effects of Parasitic MOSFETs and Traps on Charge Transport Properties of Germanium Quantum Dot Single Electron/Hole Transistors
Lai, W. T., Liao, W. M., Kuo, M. T. D., Li, P. W. Piscataway, N.J.:; IEEE, 2005 IEEE CONFERENCE ON ELECTRON DEVICES AND SOLID STAT Vol.- No.-
Synthesis, Characterization and Mixed Electronic-Ionic Conducting Properties of La~0~.~6Sr~0~.~4Co~0~.~2Fe~0~.~8O~3 Perovskite-type Oxides
Huang, D.-P., Xu, Q., Chen, W., Wang, B.-T., Jiang New Jersey; London:; World Scientific, 2004 SOLID STATE IONICS; PROCEEDINGS OF THE ASIAN CONFE Vol.9 No.-
XPS Characterization of Mixed Electronic-Ionic Conducting La~0~.~6Sr~0~.~4Co~0~.~2Fe~0~.~8O~3 Ceramics Prepared by Different Methods
Xu, Q., Huang, D.-p., Chen, W., Wang, B.-t., Jiang New Jersey; London:; World Scientific, 2004 SOLID STATE IONICS; PROCEEDINGS OF THE ASIAN CONFE Vol.9 No.-
Electronic Properties and Thermal Stability of Defects Induced by MeV Electron/Ion Irradiations in Unstrained Germanium and SiGe Alloys
Markevich, V. P., Peaker, A. R., Murin, L. I., Emt Uetikon-Zuerich; TTP 2005 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.108-109 No.-
A Mechanism of Increase in the On-Current and Off-Current due to a Slightly Smaller Spacer in State-Of-The-Art P-Channel MOS Transistors During Manufacturing
Lau, W. S., Eng, C. W., Tee, K. M., Siah, S. Y., V Piscataway, N.J.:; IEEE, 2005 IEEE CONFERENCE ON ELECTRON DEVICES AND SOLID STAT Vol.- No.-
Analysis of Electron-Beam Crystallized Large Grained Si Films on Glass Substrate by EBIC, EBSD and PL
Seifert, W., Amkreutz, D., Arguirov, T., Krause, H Durnten-Zuerich; Trans Tech 2011 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.178-179 No.-
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료