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Loeber, L.,Morel, J.,Sutton, O.,Valleton, J.-M.,Mu Kluwer Academic/Plenum Publishers 1999 ATOMIC FORCE MICROSCOPY SCANNING TUNNELING MICROSC Vol.3 No.-
Scanning tunneling microscopy/scanning tunneling spectroscopy study of Ge and Si dimers on Si substrates
Tomitori, M.,Watanabe, K.,Kobayashi, M.,Nishikawa, American Institute of Physics 1993 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.12 No.3
Observation of lattice defects using scanning tunneling microscopy/spectroscopy at low temperatures
Endo, T.,Yamada, H.,Sumomogi, T.,Kino, T. American Institute of Physics 1993 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.12 No.3
Scanning tunneling microscopy/spectroscopy study of V~2O~5 surface with oxygen vacancies
Oshio, T.,Sakai, Y.,Ehara, S. American Institute of Physics 1993 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.12 No.3
Scanning tunneling microscopy/scanning electron microscopy combined instrument
Asenjo, A.,Buendia, A.,Gomez-Rodriguez, J. M.,Baro American Institute of Physics 1993 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.12 No.3
Tunneling-electron-induced adsorption of pyridine on a hydrogen-terminated silicon surface
Komiyama, M.,Kirino, M. American Institute of Physics 1993 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.12 No.3
Comparison measurement in the hundred nanometer range with a crystalline lattice using a dual tunneling-unit scanning tunneling microscope
Kawakatsu, H.,Higuchi, T.,Kougami, H.,Kawai, M. American Institute of Physics 1993 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.12 No.3
Two-directional dynamic mode force microscopy: Detection of directional force gradient
Watanabe, S.,Hane, K.,Ito, M.,Goto, T. American Institute of Physics 1993 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.12 No.3
Adsorbates in ambient operated scanning tunneling microscopy: Their appearance, mobility during scanning, and role in surface diffusion measurements
Campbell, P. A.,Davis, P. R.,Walmsley, D. G. American Institute of Physics 1993 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.12 No.3
Scanning Tunneling Microscopy-Based Fabrication of Nanometer Scale Structures
Nayfeh, M. H. Plenum Press 1994 ATOMIC FORCE MICROSCOPY SCANNING TUNNELING MICROSC Vol.- No.2
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