RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
Features of formation of high-k dielectric layer in w/ultrathin HfO~2/Si (100) structures under annealing [8700-54]
Rudakov, V.I., Bogoyavlenskaya, E.A., Denisenko, Y Bellingham; SPIE 2012 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.8700 No.-
Influence of metamorphic buffer design on electrophysical and structural properties of MHEMT nanoheterostructures In~0~.~7Al~0~.~3As/In~0~.~7Ga~0~.~3As/In~0~.~7Al~0~.~3As/GaAs [8700-33]
Pushkarev, S.S., Galiev, G.B., Klimov, E.A., Lavru Bellingham; SPIE 2012 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.8700 No.-
Laser pulse crystallization and optical properties of Si/SiO~2 and Si/Si~3N~4 multilayer nano-heterostructures [8700-6]
Volodin, V.A., Arzhannikova, S.A., Gismatulin, A.A Bellingham; SPIE 2012 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.8700 No.-
In situ measurement and control of SC-1 chemistries
Lindquist, P. G.,Butler, J. N.,Velichko, S. A.,Fah Acco 1996 PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ULTR Vol.3 No.-
A novel vapor phase process for clean silicon surface preparation
Li, L.,Weimer, R.,Kepten, A.,Thahur, R. Acco 1996 PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ULTR Vol.3 No.-
Integrated dry cleaning of contamination resulting from reactive ion etching of silicon dioxide
Lawing, A. S.,Muscat, A.,Sawin, H.,Fayfield, T. Acco 1996 PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ULTR Vol.3 No.-
Removal of organic contamination from silicon surfaces
Kenens, C.,Storm, W.,Knotter, M.,De Gendt, S. Acco 1996 PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ULTR Vol.3 No.-
Silicon surface toughening in iron contaminated SC1 bath
Knotter, M.,Mouche, L.,Meuris, M.,Heyns, M. M. Acco 1996 PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ULTR Vol.3 No.-
Roughness in hydrophobic or hydrophillic silicon (100) surfaces induced by HF (1 %) solution during RCA cleaning
Franco, G.,Camalleri, C. M.,Raineri, V. Acco 1996 PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ULTR Vol.3 No.-
Optimized cleaning processes for silicon wafer bonding
Ljungberg, K.,Bengtsson, S. Acco 1996 PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ULTR Vol.3 No.-
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료