RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
Electromigration-Induced Copper Interconnect Degradation and Failure: The Role of Microstructure
Zschech, E., Meyer, M. A., Zienert, I., Langer, E. Piscataway, NJ:; IEEE, 2005 PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE Vol.12 No.-
A new physics-based model for time-dependent dielectric breakdown (Invited Paper)
Schlund, B. J., Suehle, J., Messick, C., Chaparala Pergamon 1996 Microelectronics and reliability Vol.36 No.12/SPI
Failure criteria for long term accelerated power cycling test linked to electrical turn off SOA on IGBT module. A 4000 hours test on 1200A-3300V module AlSiC base plate
Coquery, G.,Lallemand, R. Pergamon 2000 Microelectronics and reliability Vol.40 No.8-10
Failure analysis of MMIC power amplifiers
Christianson, K. A., Roussos, J. A., Anderson, W. unknown 1993 INTERNATIONAL CONFERENCE ON QUALITY IN ELECTRONIC Vol.6 No.-
Failure mechanisms of MMIC ; qualification methodology
Pasquali, A., Perey, M. unknown 1993 INTERNATIONAL CONFERENCE ON QUALITY IN ELECTRONIC Vol.6 No.-
Failure analysis of AlGaAs/GaAs laser diodes by scanning optical microscope
Sakri, A., Bauduin, B., Patrac, C., Devoldere, P. unknown 1993 INTERNATIONAL CONFERENCE ON QUALITY IN ELECTRONIC Vol.6 No.-
IC-failure rate prediction as the sum of its failure mechanism failure rates
Van der Borght, J., Vruders, J., De Pauw, P., Gall unknown 1993 INTERNATIONAL CONFERENCE ON QUALITY IN ELECTRONIC Vol.6 No.-
Failure mode analysis, failure rate calculations and lifetime predictions of EECMOS programmable array logic in high accelerated stress tests
Nagel, M., Wennink, R. G. A. M. unknown 1993 INTERNATIONAL CONFERENCE ON QUALITY IN ELECTRONIC Vol.6 No.-
Reliability modeling for electromigration failure
Lloyd, J. R. unknown 1993 INTERNATIONAL CONFERENCE ON QUALITY IN ELECTRONIC Vol.6 No.-
An inexpensive fault locating method dedicated to large memory failure analysis
Chabanne, P. L., Hess, J. M., Lemaire, B. unknown 1993 INTERNATIONAL CONFERENCE ON QUALITY IN ELECTRONIC Vol.6 No.-
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료