RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
Impacts of Cu Metallization on High Density Damascene Cu/TiN/Ta~2O~5/TiN/Cu Metal-Insulator-Metal Capacitors
Thomas, M., Farcy, A., Perrot, C., Gros-Jean, M., Warrendale, Pa; Materials Research Society 2006 ADVANCED METALLIZATION CONFERENCE IN Vol.- No.-
Metallization Local Stress Monitoring in Industrial Semiconductor Processes
Kasbari, M., Rivero, C., Blayac, S., Cacho, F., Fo Melville, N.Y.; American Institute of Physics 2007 AIP Conference Proceedings Series Vol.- No.945
The Impact of Ash on TDDB of Metal-Hard-Mask-Etched Cu/Low-k Interconnects
Pantouvaki, M., Struyf, H., Hendrickx, D., Heylen, Warrendale; Materials Research Society 2008 ADVANCED METALLIZATION CONFERENCE IN Vol.- No.-
Development of Atomic Layer Deposition TiN as Electrodes of Metal-Insulator-Metal Capacitor
Wu, D., Lin, K.-Y., Chao, L. L., Yu, C. Y., Lo, C. Warrendale, PA:; Materials Research Society, 2002 ADVANCED METALLIZATION CONFERENCE IN Vol.- No.-
Fully Integrated Tantalum Pentoxide Metal-Insulator-Metal Capacitors for Si and SiGe RF-BiCMOS Technologies
Sun, H., Aksen, E., Lau, K. M., Bell, N. Warrendale, PA:; Materials Research Society, 2003 ADVANCED METALLIZATION CONFERENCE IN Vol.- No.-
Advanced Thermally Stable Contact Technology for Fabricating Embedded and Gigabit Metal-Based DRAMs
Nakamura, Y.,Yoshida, M.,Goto, H.,Fukuda, T.,Kobay Materials Research Society 1998 ADVANCED METALLIZATION CONFERENCE IN Vol.- No.-
Electrical Properties in Metal/Si~1~-~xGe~x/Si(100) Contacts
Zaima, S., Kojima, J., Shinoda, H., Yasuda, Y. MRS 1996 ADVANCED METALLIZATION CONFERENCE IN Vol.- No.-
The Impact of Negative Overlap between Metal- and Via-Levels on Via Performance: Via Resistance, Via String Yield and Electromigration Resistance
Doedel, W., Rouchouze, E., Gounelle, C. MRS 1995 Advanced Metallization and Interconnect Systems fo Vol.10 No.-
Characterization and optimization of a new Cu/SiN/TaN/Cu damascene architecture for metal–insulator–metal capacitors
Thomas, M., Piquet, J., Farcy, A., Bermond, C., To Elsevier 2005 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.82 No.3-4
Realization of Very Low Resistivities and Interface Studies of Metal/Silicon Contacts
Yasuda, Y.,Zaima, S. Materials Research Society 1993 ADVANCED METALLIZATION CONFERENCE IN Vol.- No.-
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료